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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第290位 141件
(2014年:第262位 161件)
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第231位 129件
(2014年:第205位 206件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2015-159541 | 画像取得装置及び撮像装置 | 2015年 9月 3日 | |
特開 2015-155835 | 電子線照射装置 | 2015年 8月27日 | |
特開 2015-155836 | 窓箔保護ユニット及び電子線照射装置の整備方法 | 2015年 8月27日 | |
特開 2015-150576 | レーザ加工装置及びレーザ加工方法 | 2015年 8月24日 | |
特開 2015-152713 | ファブリペロー干渉フィルタ | 2015年 8月24日 | |
特開 2015-146747 | 細胞判定方法 | 2015年 8月20日 | |
特開 2015-148483 | 分光器 | 2015年 8月20日 | |
特開 2015-148484 | 分光器 | 2015年 8月20日 | |
特開 2015-148485 | 分光器、及び分光器の製造方法 | 2015年 8月20日 | |
特開 2015-148486 | 分光器、及び分光器の製造方法 | 2015年 8月20日 | |
特開 2015-148487 | 分光器、及び分光器の製造方法 | 2015年 8月20日 | |
特開 2015-149403 | 半導体レーザモジュール | 2015年 8月20日 | |
特開 2015-145883 | 半導体デバイス検査装置及び半導体デバイス検査方法 | 2015年 8月13日 | |
特開 2015-146036 | 収差補正方法、この収差補正方法を用いた顕微鏡観察方法、この収差補正方法を用いたレーザ照射方法、収差補正装置、及び、収差補正プログラム | 2015年 8月13日 | |
特開 2015-141176 | 膜厚計測方法及び膜厚計測装置 | 2015年 8月 3日 |
155 件中 46-60 件を表示
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2015-159541 2015-155835 2015-155836 2015-150576 2015-152713 2015-146747 2015-148483 2015-148484 2015-148485 2015-148486 2015-148487 2015-149403 2015-145883 2015-146036 2015-141176
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6月12日(木) -
6月12日(木) -
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6月19日(木) - 大阪 大阪市
6月19日(木) -
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) -
6月20日(金) - 愛知 名古屋市
6月16日(月) - 東京 大田
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