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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第185位 191件
(
2023年:第191位 199件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第113位 282件
(
2023年:第182位 195件)
(ランキング更新日:2026年4月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2024-179031 | レーザ加工装置 | 2024年12月26日 | |
| 特開 2024-180673 | 半導体素子及び半導体素子製造方法 | 2024年12月26日 | |
| 特開 2024-177762 | 干渉観察装置及び干渉観察方法 | 2024年12月24日 | |
| 特開 2024-178087 | 気相中の物質の検出方法、検出ユニット | 2024年12月24日 | |
| 特開 2024-175786 | 試料支持体 | 2024年12月19日 | |
| 特開 2024-175787 | 試料支持体及び試料支持体の製造方法 | 2024年12月19日 | |
| 特開 2024-175788 | 試料支持体及び試料支持体の製造方法 | 2024年12月19日 | |
| 特開 2024-176646 | 微粒子製造装置及び微粒子製造方法 | 2024年12月19日 | |
| 特開 2024-177083 | 試料支持体及び試料支持体の製造方法 | 2024年12月19日 | |
| 特開 2024-174502 | イオン検出器及び分析装置 | 2024年12月17日 | |
| 特開 2024-175036 | 半導体故障解析装置及び半導体故障解析方法 | 2024年12月17日 | |
| 特開 2024-174072 | レーザモジュール | 2024年12月13日 | |
| 特開 2024-174139 | 分離画像取得方法、分離画像取得装置、及び分離画像取得プログラム | 2024年12月13日 | |
| 特開 2024-168434 | 干渉光生成方法及び干渉光生成装置 | 2024年12月 5日 | |
| 特開 2024-168881 | 光ヘテロダイン干渉測定装置および光ヘテロダイン干渉測定方法 | 2024年12月 5日 |
196 件中 1-15 件を表示
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2024-179031 2024-180673 2024-177762 2024-178087 2024-175786 2024-175787 2024-175788 2024-176646 2024-177083 2024-174502 2024-175036 2024-174072 2024-174139 2024-168434 2024-168881
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