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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第237位 214件
(2016年:第267位 151件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第218位 142件
(2016年:第184位 193件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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再表 2015-64758 | 光検出装置 | 2017年 3月 9日 | |
特開 2017-49603 | 電子部品 | 2017年 3月 9日 | |
特開 2017-50239 | マイクロチャンネルプレート及び電子増倍体 | 2017年 3月 9日 | |
特開 2017-50307 | 量子カスケードレーザ | 2017年 3月 9日 | |
特開 2017-50308 | 量子カスケードレーザ | 2017年 3月 9日 | |
再表 2015-8627 | 半導体レーザ装置 | 2017年 3月 2日 | |
再表 2015-25691 | 光干渉計を製造する方法 | 2017年 3月 2日 | |
特開 2017-44525 | コリメーション評価装置およびコリメーション評価方法 | 2017年 3月 2日 | |
特開 2017-44531 | 光合成サンプルの評価システム、光合成サンプルの評価方法、および光合成サンプルの評価プログラム | 2017年 3月 2日 | |
特開 2017-44551 | 自己相関測定装置 | 2017年 3月 2日 | |
特開 2017-44711 | 表面増強ラマン散乱ユニット | 2017年 3月 2日 | |
再表 2014-174866 | 光検出器 | 2017年 2月23日 | |
再表 2014-175219 | 画像取得装置、試料の合焦点情報を取得する方法及びシステム | 2017年 2月23日 | |
再表 2014-175220 | 画像取得装置、試料のフォーカスマップを作成する方法及びシステム | 2017年 2月23日 | |
再表 2014-175447 | 半導体レーザ装置 | 2017年 2月23日 |
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2015-64758 2017-49603 2017-50239 2017-50307 2017-50308 2015-8627 2015-25691 2017-44525 2017-44531 2017-44551 2017-44711 2014-174866 2014-175219 2014-175220 2014-175447
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6月20日(金) - 東京 千代田区
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6月16日(月) - 東京 大田
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