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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第249位 163件
(
2016年:第277位 136件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第218位 141件
(
2016年:第184位 193件)
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6186038 | 半導体光検出素子 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6185494 | X線管 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6185493 | X線管 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6185478 | 光変調装置 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6185098 | 固体撮像装置 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6184761 | 固体撮像装置 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6180954 | 分光器、及び分光器の製造方法 | 2017年 8月16日 | |
| 特許 6178429 | 赤外線放射のため半導体光センサ | 2017年 8月 9日 | |
| 特許 6177153 | 分光器 | 2017年 8月 9日 | |
| 特許 6178087 | フラッシュ光源装置 | 2017年 8月 9日 | |
| 特許 6172789 | レーザ装置 | 2017年 8月 2日 | |
| 特許 6169856 | 裏面入射型エネルギー線検出素子 | 2017年 7月26日 | |
| 特許 6170379 | 半導体エネルギー線検出素子 | 2017年 7月26日 | |
| 特許 6166145 | X線発生装置 | 2017年 7月19日 | |
| 特許 6166032 | 半導体デバイス検査装置及び半導体デバイス検査方法 | 2017年 7月19日 |
163 件中 61-75 件を表示
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6186038 6185494 6185493 6185478 6185098 6184761 6180954 6178429 6177153 6178087 6172789 6169856 6170379 6166145 6166032
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