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 ■ 2022年 出願公開件数ランキング    第177位 207件
					( 2021年:第181位 240件)
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 ■ 2022年 特許取得件数ランキング    第165位 203件
					( 2021年:第165位 183件)
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(ランキング更新日:2025年10月31日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 | 
|---|---|---|---|
| 特許 7195722 | 細胞刺激方法及び細胞刺激装置 | 2022年12月26日 | |
| 特許 7194518 | 電子部品、電子部品の製造方法、電子装置 | 2022年12月22日 | |
| 特許 7193486 | 試料支持体、及び試料支持体の製造方法 | 2022年12月20日 | |
| 特許 7190277 | 被検体分析方法 | 2022年12月15日 | |
| 特許 7190455 | 試料支持体及び試料支持体の製造方法 | 2022年12月15日 | |
| 特許 7188886 | 加工装置 | 2022年12月13日 | |
| 特許 7188965 | 光励起磁気センサ用セルモジュール | 2022年12月13日 | |
| 特許 7187478 | フォトンカウンティング装置およびフォトンカウンティング方法 | 2022年12月12日 | |
| 特許 7186934 | 半導体故障解析装置及び半導体故障解析方法 | 2022年12月 9日 | |
| 特許 7186104 | 分光器、及び分光器の製造方法 | 2022年12月 8日 | |
| 特許 7186186 | 試料支持体、イオン化法及び質量分析方法 | 2022年12月 8日 | |
| 特許 7186187 | 試料支持体、イオン化法及び質量分析方法 | 2022年12月 8日 | |
| 特許 7185481 | 放射線撮像装置 | 2022年12月 7日 | |
| 特許 7184700 | 分散測定装置、パルス光源、分散測定方法、および分散補償方法 | 2022年12月 6日 | |
| 特許 7182456 | レーザ加工方法、及び、半導体部材製造方法 | 2022年12月 2日 | 
208 件中 1-15 件を表示
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7195722 7194518 7193486 7190277 7190455 7188886 7188965 7187478 7186934 7186104 7186186 7186187 7185481 7184700 7182456
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10月31日(金) -
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11月4日(火) -
11月4日(火) - 大阪 大阪市
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11月5日(水) -
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11月6日(木) - 東京 港区
11月6日(木) - 大阪 大阪市
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11月7日(金) -
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