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■ 2020年 特許取得件数ランキング 第174位 167件 (2019年:第174位 160件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6724261 | フォトンカウンティング装置およびフォトンカウンティング方法 | 2020年 7月15日 | |
特許 6725288 | 放射線検出器の製造方法 | 2020年 7月15日 | |
特許 6718534 | 画像処理方法、画像処理装置、画像処理プログラム、及び画像処理プログラムを記憶した記憶媒体 | 2020年 7月 8日 | |
特許 6718779 | 波長変換素子及び波長変換光パルス波形整形装置 | 2020年 7月 8日 | |
特許 6718945 | 発光素子、発光素子の作製方法、及び発光素子の位相変調層設計方法 | 2020年 7月 8日 | |
特許 6719004 | 撮像ユニットおよび放射線画像取得システム | 2020年 7月 8日 | |
特許 6720112 | フィルタ制御式導出方法、光計測システム、ファブリペロー干渉フィルタの制御方法、及び、フィルタ制御プログラム | 2020年 7月 8日 | |
特許 6720160 | 表面増強ラマン散乱ユニット | 2020年 7月 8日 | |
特許 6720427 | 光電陰極、電子管、及び、光電陰極の製造方法 | 2020年 7月 8日 | |
特許 6720429 | 検査装置及び検査方法 | 2020年 7月 8日 | |
特許 6720430 | 検査装置及び検査方法 | 2020年 7月 8日 | |
特許 6715055 | 放射線検出器及びシンチレータパネル | 2020年 7月 1日 | |
特許 6715632 | レーザ加工方法及びレーザ加工装置 | 2020年 7月 1日 | |
特許 6716491 | 光モジュール | 2020年 7月 1日 | |
特許 6713527 | 質量分析装置 | 2020年 6月24日 |
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6724261 6725288 6718534 6718779 6718945 6719004 6720112 6720160 6720427 6720429 6720430 6715055 6715632 6716491 6713527
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11月22日(金) -
11月22日(金) -
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11月25日(月) - 岐阜 各務原市
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11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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