特許ランキング
- 出願人詳細情報 -
ホーム > 特許ランキング > エルフィノート・テクノロジー株式会社 > 2012年 > 特許一覧
出願人名に「エルフィノート・テクノロジー株式会社」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
特許
4940269
|
半導体ウェハのテスト装置、半導体ウェハのテスト方法及び半導体ウェハ用プローブカード | エルフィノート・テクノロジー株式会社 | 2012年 5月30日 |
| 特許
4864685
|
スピーカ装置 | エルフィノート・テクノロジー株式会社 | 2012年 2月 1日 |
2 件中 1-2 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー （をクリックすると全て選択します）
4940269 4864685
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。エルフィノート・テクノロジー株式会社の知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
4月1日(火) - 山口 山口市
4月1日(火) -
4月2日(水) -
4月2日(水) -
4月4日(金) -
4月1日(火) - 山口 山口市
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
千葉県柏市若柴178番地４ 柏の葉キャンパス148街区2 ショップ＆オフィス棟6階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許
〒460-0003 愛知県名古屋市中区錦1-11-11 名古屋インターシティ16F 〒104-0061 東京都中央区銀座8-17-5 THE HUB 銀座OCT 407号室(東京支店) 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒530-0044 大阪府大阪市北区東天満1丁目11番15号 若杉グランドビル別館802 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
