ホーム > 特許ランキング > 東芝メディカルシステムズ株式会社 > 2017年 > 特許一覧
東芝メディカルシステムズ株式会社
※ ログインすれば出願人(東芝メディカルシステムズ株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2017年 出願公開件数ランキング 第122位 424件
（
2016年：第278位 140件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第52位 509件
（2016年：第143位 246件）
（ランキング更新日：2025年12月5日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
東芝メディカルシステムズ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6226692 | 超音波診断装置及び超音波探触子 | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6226713 | Ｘ線診断装置およびＸ線診断装置用メンテナンス支援装置 | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6226726 | 超音波診断装置及び制御プログラム | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6222795 | 画像診断装置及びその制御方法 | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6222797 | Ｘ線診断装置及びプログラム | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6222798 | 超音波診断装置 | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6222799 | 医用装置及び医用装置用の寝台装置 | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6222801 | 医用画像処理装置、Ｘ線診断装置及び医用画像処理プログラム | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6222807 | 医用画像処理装置、Ｘ線診断装置及び医用画像処理プログラム | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6222809 | マンモグラフィ装置 | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6222811 | 超音波診断装置及び画像処理装置 | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6222812 | 平面検出器保持装置及び平面検出器 | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6222813 | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置、画像処理装置及び画像処理方法 | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6222814 | 磁気共鳴イメージング装置 | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6222829 | 超音波診断装置、画像処理装置及び画像処理方法 | 2017年11月 1日 |
515 件中 61-75 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6226692 6226713 6226726 6222795 6222797 6222798 6222799 6222801 6222807 6222809 6222811 6222812 6222813 6222814 6222829
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。東芝メディカルシステムズ株式会社の知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月11日(木) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月16日(火) - 東京 千代田区
12月16日(火) -
12月16日(火) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月18日(木) -
12月18日(木) -
12月18日(木) -
12月19日(金) - 山口 山口市
12月19日(金) - 東京 千代田区
12月19日(金) - 大阪 大阪市
【大阪会場】 前田知財塾 ～スキルアップ編～ 知財の仕事を、もっと深く、もっと面白く！ 第2回 「特許権侵害判断・回避構造の検討」
12月19日(金) - 神奈川 川崎市
12月19日(金) -
12月19日(金) -
12月19日(金) -
12月19日(金) -
12月15日(月) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
〒453-0012 愛知県名古屋市中村区井深町１番１号 新名古屋センタービル・本陣街２階 ２４３－１号室 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都新宿区四谷2-12-5 四谷ISYビル3階 PDI特許商標事務所内 特許・実用新案 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒543－0014 大阪市天王寺区玉造元町2番32－1301 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
