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出願人名に「ノヴァ・メジャーリング・インストゥルメンツ・リミテッド」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特表 2013-531794 | パターン化構造の光学検査を最適化するための方法およびシステム | ノヴァ・メジャーリング・インストゥルメンツ・リミテッド | 2013年 8月 8日 |
| 特表 2013-520674 | パターン化された構造を測定するための方法およびシステム | ノヴァ・メジャーリング・インストゥルメンツ・リミテッド | 2013年 6月 6日 |
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2013-531794 2013-520674
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