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ライカ マイクロシステムズ ツェーエムエス ゲーエムベーハー
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第7297位 2件
（
2015年： 0件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第5777位 2件
（2015年： 0件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ライカ マイクロシステムズ ツェーエムエス ゲーエムベーハーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特表 2016-535861 | 顕微鏡で複数のサンプルを検査するための光学装置および方法 | 2016年11月17日 | |
| 特表 2016-519331 | 顕微鏡試料の撮像および操作方法、ならびに光学配置 | 2016年 6月30日 |
2 件中 1-2 件を表示
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2016-535861 2016-519331
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