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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第5643位 3件
(2016年:第4224位 4件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第8798位 1件
(2016年:第24808位 0件)
(ランキング更新日:2025年3月3日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特表 2017-523615 | IC製造プロセスモデルのパラメータを決定するための方法 | 2017年 8月17日 | |
特表 2017-520021 | 差分手順によりIC製造プロセスのパラメータを判断する方法 | 2017年 7月20日 | |
特表 2017-520117 | IC製造工程の数値指標を計算する方法 | 2017年 7月20日 | |
特開 2017-76786 | 粒子ビームまたは光子ビームによる直接描画時のショット計数を低減させる方法 | 2017年 4月20日 |
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2017-523615 2017-520021 2017-520117 2017-76786
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