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出願人名に「カール・ツアイス・インダストリーエレ・メステクニク・ゲーエムベーハー」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5090606 | 座標測定装置または工作機械 | カール・ツアイス・インダストリーエレ・メステクニク・ゲーエムベーハー | 2012年12月 5日 |
| 特許 5053361 | 座標測定器による表面のスキャニング | カール・ツアイス・インダストリーエレ・メステクニク・ゲーエムベーハー | 2012年10月17日 |
| 特許 5028570 | 侵襲性放射を用いて測定対象を検査するための方法及び装置 | カール・ツアイス・インダストリーエレ・メステクニク・ゲーエムベーハー | 2012年 9月19日 |
| 特許 5022544 | 座標測定器の修正方法および座標測定器 | カール・ツアイス・インダストリーエレ・メステクニク・ゲーエムベーハー | 2012年 9月12日 |
| 特許 4885242 | 座標測定機の速度の確実な監視 | カール・ツアイス・インダストリーエレ・メステクニク・ゲーエムベーハー | 2012年 2月29日 |
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5090606 5053361 5028570 5022544 4885242
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