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コー・ヤング・テクノロジー・インコーポレーテッド
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第2283位 9件
（
2013年：第2461位 9件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第1674位 14件
（2013年：第3906位 4件）
（ランキング更新日：2025年4月3日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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コー・ヤング・テクノロジー・インコーポレーテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5632819 | ブリッジ接続不良検出方法 | 2014年11月26日 | |
| 特許 5627079 | プリント回路基板上における測定対象物の測定方法 | 2014年11月19日 | |
| 特許 5622816 | プリント回路基板上における測定対象物の測定方法 | 2014年11月12日 | |
| 特許 5597774 | 基板検査方法 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5584671 | 基板検査方法 | 2014年 9月 3日 | 共同出願 |
| 特許 5562407 | 基板検査装置及び検査方法 | 2014年 7月30日 | |
| 特許 5546522 | 表面形状測定方法及び測定装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5462999 | 多方向映写式形状測定装置 | 2014年 4月 2日 | |
| 特許 5441840 | ３次元形状測定装置 | 2014年 3月12日 | |
| 特許 5441990 | 検査方法 | 2014年 3月12日 | 共同出願 |
| 特許 5427128 | 基板検査装置及び検査方法 | 2014年 2月26日 | |
| 特許 5411882 | ３次元形状検査方法 | 2014年 2月12日 | |
| 特許 5411913 | 端子のチップ位置設定方法 | 2014年 2月12日 | |
| 特許 5411914 | 基板検査方法 | 2014年 2月12日 |
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5632819 5627079 5622816 5597774 5584671 5562407 5546522 5462999 5441840 5441990 5427128 5411882 5411913 5411914
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