日本分光株式会社
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第3542位 5件
（
2015年：第7196位 2件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第2017位 9件
（2015年：第2775位 5件）
（ランキング更新日：2025年1月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本分光株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2016-180732 | 顕微分光装置 | 2016年10月13日 | |
| 特開 2016-180733 | 顕微分光装置 | 2016年10月13日 | |
| 特開 2016-80493 | 微細構造測定用プローブおよび微細構造測定装置 | 2016年 5月16日 | |
| 特開 2016-80494 | 近接場測定方法および近接場光学顕微鏡 | 2016年 5月16日 | |
| 特開 2016-61607 | 分析システム | 2016年 4月25日 |
5 件中 1-5 件を表示
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2016-180732 2016-180733 2016-80493 2016-80494 2016-61607
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