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出願人名に「オプトウエア株式会社」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特開 2011-27577 | 光沢円筒面形状検査装置 | オプトウエア株式会社 | 2011年 2月10日 |
| 特開 2011-17552 | 多点変位検出装置 | オプトウエア株式会社 | 2011年 1月27日 |
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2011-27577 2011-17552
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