公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
---|---|---|---|
特許 5367530 | 根尖位置検出装置 | 株式会社アドテックス | 2013年12月11日 |
特許 5294645 | 基板検査装置 | 株式会社アドテックス | 2013年 9月18日 |
特許 5194026 | プラズマ処理装置 | 株式会社アドテック プラズマ テクノロジー | 2013年 5月 8日 |
特許 5147265 | 基板検査装置 | 株式会社アドテックス | 2013年 2月20日 |
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5367530 5294645 5194026 5147265
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2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
2月7日(金) -
2月7日(金) -
2月10日(月) -
2月12日(水) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月10日(月) -
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