ホーム > 特許ランキング > パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド > 2011年 > 出願公開一覧
公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
---|---|---|---|
特表 2011-505578 | 粒子検出用の2次元光学画像化方法及びシステム | パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド | 2011年 2月24日 |
特表 2011-505577 | 非直角粒子検出システム及び方法 | パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド | 2011年 2月24日 |
特表 2011-503622 | 光学粒子計数器を較正検証するためのシステム及び方法 | パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド | 2011年 1月27日 |
3 件中 1-3 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2011-505578 2011-505577 2011-503622
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッドの知財の動向チェックに便利です。
大阪府大阪市北区西天満3丁目5-10 オフィスポート大阪801号 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 コンサルティング
〒543-0014 大阪市天王寺区玉造元町2番32-1301 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒541-0046 大阪市中央区平野町2丁目2番9号 ビル皿井2階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング