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公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
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特表 2011-505578 | 粒子検出用の2次元光学画像化方法及びシステム | パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド | 2011年 2月24日 |
特表 2011-505577 | 非直角粒子検出システム及び方法 | パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド | 2011年 2月24日 |
特表 2011-503622 | 光学粒子計数器を較正検証するためのシステム及び方法 | パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド | 2011年 1月27日 |
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2011-505578 2011-505577 2011-503622
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1月20日(月) -
1月20日(月) - 大阪 大阪市
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1月21日(火) -
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1月21日(火) - 大阪 大阪市
1月22日(水) - 東京 港区
1月22日(水) -
1月22日(水) -
1月22日(水) - 大阪 大阪市
1月22日(水) - 東京 千代田区
1月22日(水) -
1月22日(水) -
1月22日(水) -
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月23日(木) - 東京 港区
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月23日(木) -
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1月24日(金) - 東京 千代田区
1月24日(金) -
1月24日(金) - 東京 千代田区
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1月24日(金) - 東京 千代田区
1月20日(月) -
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1月28日(火) -
1月28日(火) -
1月28日(火) -
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1月29日(水) -
1月29日(水) -
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1月30日(木) -
1月30日(木) -
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