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■ 2026年 出願公開件数ランキング 第333位 83件
(
2025年:第236位 147件)
■ 2026年 特許取得件数ランキング 第341位 66件
(
2025年:第228位 139件)
(ランキング更新日:2026年10月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2026-163805 | データ補正装置、データ補正方法、およびデータ補正プログラム | 2026年10月 9日 | |
| 特開 2026-162878 | 学習装置、学習方法、および学習プログラム | 2026年10月 9日 | |
| 特開 2026-161925 | 圧力センサおよびリーク検査方法 | 2026年10月 8日 | |
| 特開 2026-156206 | 制御装置および制御方法 | 2026年10月 6日 | |
| 特開 2026-154555 | エンジニアリングツールおよび方法 | 2026年10月 5日 | |
| 特開 2026-154090 | 信号処理装置及び情報処理装置 | 2026年10月 5日 | |
| 特開 2026-153380 | 配管取出構造及び空調機 | 2026年10月 2日 | |
| 特開 2026-150170 | 情報処理装置、情報処理方法および情報処理プログラム | 2026年 9月28日 | |
| 特開 2026-150171 | 生産スケジューリング装置、スケジューリング方法およびスケジューリングプログラム | 2026年 9月28日 | |
| 特開 2026-150282 | 冷接点温度推定装置および温度計測装置 | 2026年 9月28日 | |
| 特開 2026-148893 | プラズマ電子密度測定装置、プラズマ電子密度測定システム及びプラズマ電子密度測定方法 | 2026年 9月25日 | |
| 特開 2026-147802 | プラズマ電子密度計測方法およびプラズマ電子密度計測装置 | 2026年 9月17日 | |
| 特開 2026-146994 | 空間環境生成装置および空調ゾーン設定値決定方法 | 2026年 9月17日 | |
| 特開 2026-144539 | モデル同定装置、プログラム、及び、モデル同定方法 | 2026年 9月 9日 | |
| 特開 2026-142773 | 静電容量式センサ | 2026年 9月 8日 |
83 件中 1-15 件を表示
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2026-163805 2026-162878 2026-161925 2026-156206 2026-154555 2026-154090 2026-153380 2026-150170 2026-150171 2026-150282 2026-148893 2026-147802 2026-146994 2026-144539 2026-142773
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