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紀本電子工業株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第7139位 2件
（
2013年：第12936位 1件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第4015位 4件
（2013年：第9789位 1件）
（ランキング更新日：2025年1月17日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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紀本電子工業株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5611547 | 浮遊粒子状物質測定装置およびこれを用いた浮遊粒子状物質測定方法 | 2014年10月22日 | |
| 特許 5479790 | 超臨界マイクロ波反応装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5480108 | ｐＨの測定方法 | 2014年 4月23日 | 共同出願 |
| 特許 5467266 | 吸光度法を用いた溶液成分の測定方法、およびその測定方法を用いた測定装置 | 2014年 4月 9日 | 共同出願 |
4 件中 1-4 件を表示
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5611547 5479790 5480108 5467266
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