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株式会社富士通アドバンストエンジニアリング
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第2350位 9件
（
2020年：第1291位 19件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第1475位 12件
（
2020年：第2756位 5件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社富士通アドバンストエンジニアリングの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2021-156629 | 補正プログラム、補正方法、および情報処理装置 | 2021年10月 7日 | |
| 特開 2021-157452 | 検査装置、検査プログラム及び検査方法 | 2021年10月 7日 | |
| 特開 2021-152809 | 文字読取方法、文字読取プログラム、及び、文字読取装置 | 2021年 9月30日 | |
| 特開 2021-144486 | データダイオードの設定更新方法、データダイオードの設定更新プログラムおよびデータダイオード | 2021年 9月24日 | |
| 特開 2021-144487 | データダイオードの設定更新方法、データダイオードの設定更新プログラムおよびデータダイオード | 2021年 9月24日 | |
| 特開 2021-125071 | レイアウト生成装置、レイアウト生成方法及びレイアウト生成プログラム | 2021年 8月30日 | |
| 特開 2021-121561 | データ生成装置、データ生成方法及びデータ生成プログラム | 2021年 8月26日 | |
| 特開 2021-55266 | 石垣配置支援プログラム、石垣配置支援方法、及び、石垣配置支援装置 | 2021年 4月 8日 | |
| 特開 2021-39691 | 検査装置、検査方法及び検査プログラム | 2021年 3月11日 | |
| 特開 2021-10980 | 研削状態監視方法、研削状態監視プログラムおよび装置 | 2021年 2月 4日 |
10 件中 1-10 件を表示
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2021-156629 2021-157452 2021-152809 2021-144486 2021-144487 2021-125071 2021-121561 2021-55266 2021-39691 2021-10980
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