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カール ツァイス マイクロスコーピー ゲーエムベーハー
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第5373位 3件
（
2017年：第12799位 1件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第5366位 2件
（2017年：第5450位 2件）
（ランキング更新日：2025年5月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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カール ツァイス マイクロスコーピー ゲーエムベーハーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2018-190731 | 粒子ビームを生成するための粒子源及び粒子光学装置 | 2018年11月29日 | |
| 特開 2018-152330 | 物体を分析する方法およびこの方法を実行するための荷電粒子ビーム装置 | 2018年 9月27日 | |
| 特開 2018-141791 | 粒子ビームシステム及びＴＥＭ試料を加工する方法 | 2018年 9月13日 | |
| 特開 2018-32641 | ガス混合物の質量分析試験のための方法および質量分析計 | 2018年 3月 1日 |
4 件中 1-4 件を表示
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2018-190731 2018-152330 2018-141791 2018-32641
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