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公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
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特許 5635631 | 電気化学的分析における静電容量の検出 | ライフスキャン・スコットランド・リミテッド | 2014年12月 3日 |
特許 5628482 | 検体試験方法 | ライフスキャン・スコットランド・リミテッド | 2014年11月19日 |
特許 5612690 | グルコース測定方法及びシステム | ライフスキャン・スコットランド・リミテッド | 2014年10月22日 |
特許 5567554 | 穿刺装置及び方法 | ライフスキャン・スコットランド・リミテッド | 2014年 8月 6日 |
特許 5540116 | 検査ストリップを検査計から取り外すための形状記憶合金取り外し機構 | ライフスキャン・スコットランド・リミテッド | 2014年 7月 2日 |
特許 5503005 | 検査ストリップのタイプを識別する方法、システム及び装置 | ライフスキャン・スコットランド・リミテッド | 2014年 5月28日 |
特許 5421382 | ESDイベントを低減するための方法及び検査計器 | ライフスキャン・スコットランド・リミテッド | 2014年 2月19日 |
特許 5399863 | 最小充填ミス試料観察窓を有する分析テストストリップ | ライフスキャン・スコットランド・リミテッド | 2014年 1月29日 |
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5635631 5628482 5612690 5567554 5540116 5503005 5421382 5399863
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2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月20日(木) - 東京 港区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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