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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第2749位 7件 (2010年:第2457位 9件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第2899位 6件 (2010年:第1644位 12件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2011-221027 | 表面の干渉分析のための方法およびシステムならびに関連する応用例 | 2011年11月 4日 | |
特開 2011-169920 | 走査干渉分光を用いた複雑な表面構造のプロファイリング | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-107168 | 試験対象物の幾何学的特性を測定する方法及び装置、並びに光プロファイリング・システム | 2011年 6月 2日 | |
特表 2011-508241 | 低コヒーレンス走査干渉法における走査エラー補正 | 2011年 3月10日 | |
特表 2011-506972 | 走査干渉法を使用した表面構造の解析 | 2011年 3月 3日 | |
特表 2011-504231 | 偏光スキャンを利用した干渉計 | 2011年 2月 3日 | |
特開 2011-2467 | 走査干渉分光を用いた複雑な表面構造のプロファイリング | 2011年 1月 6日 |
7 件中 1-7 件を表示
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2011-221027 2011-169920 2011-107168 2011-508241 2011-506972 2011-504231 2011-2467
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10月21日(月) -
日常実務の疑問点に答える著作権 (周辺領域の商標・不正競争防止法を含む)に関するQ&A ~日常業務において、判断に迷う・知らずして間違いを犯しがちなケースを取り上げて、Q&A形式で平易に解説~
10月22日(火) - 東京 港
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