ホーム > 特許ランキング > イー インク コーポレイション > 2011年 > 出願公開一覧
※ ログインすれば出願人(イー インク コーポレイション)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第869位 34件 (2010年:第1301位 22件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第1455位 16件 (2010年:第1644位 12件)
(ランキング更新日:2024年10月10日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-258995 | 誘電体層の反応性形成および有機半導体デバイスにおける有機層の保護 | 2011年12月22日 | |
特開 2011-253201 | 電気光学ディスプレイ | 2011年12月15日 | |
特開 2011-253202 | 電気光学ディスプレイ | 2011年12月15日 | |
特開 2011-242809 | 電気泳動粒子 | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-242810 | 電気泳動粒子 | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-232760 | 光変調器 | 2011年11月17日 | |
特開 2011-180620 | 電気泳動ディスプレイおよび材料 | 2011年 9月15日 | |
特開 2011-175285 | 電気光学ディスプレイのためのバックプレーン | 2011年 9月 8日 | |
特開 2011-170389 | カプセルの調製 | 2011年 9月 1日 | |
特表 2011-520137 | 電気光学ディスプレイを駆動する方法 | 2011年 7月14日 | |
特表 2011-519057 | 電気光学ディスプレイを駆動する方法 | 2011年 6月30日 | |
特開 2011-128625 | 双安定電子光学ディスプレイの駆動方法 | 2011年 6月30日 | |
特開 2011-123502 | 電子光学ディスプレイを密閉するためのプロセス | 2011年 6月23日 | |
特開 2011-118437 | 電気光学ディスプレイおよびドライブ方法 | 2011年 6月16日 | |
特開 2011-118434 | 低残留電圧の電気光学ディスプレイ | 2011年 6月16日 |
34 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2011-258995 2011-253201 2011-253202 2011-242809 2011-242810 2011-232760 2011-180620 2011-175285 2011-170389 2011-520137 2011-519057 2011-128625 2011-123502 2011-118437 2011-118434
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。イー インク コーポレイションの知財の動向チェックに便利です。
10月21日(月) -
日常実務の疑問点に答える著作権 (周辺領域の商標・不正競争防止法を含む)に関するQ&A ~日常業務において、判断に迷う・知らずして間違いを犯しがちなケースを取り上げて、Q&A形式で平易に解説~
10月22日(火) - 東京 港
10月22日(火) -
10月22日(火) -
10月22日(火) -
10月22日(火) -
10月23日(水) -
10月23日(水) -
10月23日(水) -
10月23日(水) -
10月24日(木) -
10月24日(木) -
10月24日(木) - 東京 港
10月24日(木) -
10月25日(金) - 東京 千代田区
10月25日(金) -
10月25日(金) - 大阪 大阪市
10月25日(金) -
特許業務法人 藤本パートナーズ 株式会社ネットス 株式会社パトラ
大阪オフィス:大阪市中央区南船場1-15-14 堺筋稲畑ビル2F 5F 東京オフィス:東京都千代田区平河町1-1-8 麹町市原ビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都千代田区岩本町2-19-9 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒220-0004 横浜市西区北幸1-11-15 横浜STビル8階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング