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ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第3042位 6件
（
2013年：第781位 41件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第4015位 4件
（2013年：第2459位 8件）
（ランキング更新日：2024年11月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2014-168254 | 入力信号を制御可能に遅延させるための回路及び方法、並びに顕微鏡及び顕微鏡を制御するための方法 | 2014年 9月11日 | |
| 特表 2014-522093 | 検出装置 | 2014年 8月28日 | |
| 特開 2014-78008 | レーザー顕微解剖領域の画定方法及び関連するレーザー顕微解剖システム | 2014年 5月 1日 | |
| 特表 2014-508326 | 走査型顕微鏡、および試料の光学顕微鏡使用画像形成のための方法 | 2014年 4月 3日 | |
| 特表 2014-508321 | オートフォーカス装置を有する顕微鏡及び顕微鏡でのオートフォーカス方法 | 2014年 4月 3日 | |
| 特表 2014-503842 | 共焦点レーザー走査顕微鏡および試料の検査方法 | 2014年 2月13日 |
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2014-168254 2014-522093 2014-78008 2014-508326 2014-508321 2014-503842
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