ホーム > 特許ランキング > 富士ゼロックス株式会社 > 2014年 > 出願公開一覧
※ ログインすれば出願人(富士ゼロックス株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2014年 出願公開件数ランキング 第25位 1410件
(2013年:第22位 1704件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第19位 1583件
(2013年:第23位 1439件)
(ランキング更新日:2025年2月25日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2014-21300 | トナーセット、画像形成装置、及び、画像形成方法 | 2014年 2月 3日 | |
特開 2014-21214 | 静電荷像現像用トナー、静電荷像現像剤、トナーカートリッジ、プロセスカートリッジ、画像形成装置、及び、画像形成方法 | 2014年 2月 3日 | |
特開 2014-23088 | 画像形成装置および試験データ | 2014年 2月 3日 | |
特開 2014-21947 | 端末装置、記憶媒体、設定情報登録システム及びプログラム | 2014年 2月 3日 | |
特開 2014-21883 | 情報処理装置及び情報処理プログラム | 2014年 2月 3日 | |
特開 2014-21750 | 認証装置、画像形成装置、認証システム及びプログラム | 2014年 2月 3日 | |
特開 2014-21695 | 情報処理装置およびプログラム | 2014年 2月 3日 | |
特開 2014-21645 | 情報分類プログラム及び情報処理装置 | 2014年 2月 3日 | |
特開 2014-21541 | 情報処理装置およびプログラム | 2014年 2月 3日 | |
特開 2014-21533 | 情報処理装置及び情報処理プログラム | 2014年 2月 3日 | |
特開 2014-21508 | 文書関連付け装置及びプログラム | 2014年 2月 3日 | |
特開 2014-22672 | 面発光型半導体レーザ、面発光型半導体レーザ装置、光伝送装置および情報処理装置 | 2014年 2月 3日 | |
特開 2014-23112 | 画像読取装置および画像形成装置 | 2014年 2月 3日 | |
特開 2014-23053 | 画像読み取り装置、画像形成装置およびプログラム | 2014年 2月 3日 | |
特開 2014-22997 | 画像読取装置、画像形成装置及びプログラム | 2014年 2月 3日 |
1410 件中 1291-1305 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2014-21300 2014-21214 2014-23088 2014-21947 2014-21883 2014-21750 2014-21695 2014-21645 2014-21541 2014-21533 2014-21508 2014-22672 2014-23112 2014-23053 2014-22997
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。富士ゼロックス株式会社の知財の動向チェックに便利です。
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
3月4日(火) - 東京 港区
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
3月7日(金) -
3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
3月7日(金) -
3月4日(火) - 東京 港区
〒530-0044 大阪府大阪市北区東天満1丁目11番15号 若杉グランドビル別館802 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都港区北青山2丁目7番20号 第二猪瀬ビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒195-0074 東京都町田市山崎町1089-10 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 鑑定 コンサルティング