特許ランキング - 出願人詳細情報 -

新電元工業株式会社

※ ログインすれば出願人(新電元工業株式会社)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2012年出願公開件数ランキング　　　第291位　145件（2011年：第340位　117件）

　■　2012年特許取得件数ランキング　　　第433位　81件（2011年：第479位　67件）

（ランキング更新日：2024年12月18日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年

新電元工業株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2012-235171	炭化珪素ショットキダイオード	2012年11月29日
特開 2012-235011	金型、デバイス製造装置、並びにデバイス製造方法	2012年11月29日
特開 2012-229654	点火装置、及びその点火制御方法	2012年11月22日
特開 2012-228046	電源装置	2012年11月15日
特開 2012-226930	電源装置	2012年11月15日
特開 2012-222077	半導体装置、接続子、および、半導体装置の製造方法	2012年11月12日
特開 2012-220282	半導体チップの検査選別装置及び検査選別方法	2012年11月12日
特開 2012-222111	電気部品モジュール	2012年11月12日
特開 2012-222954	駆動回路	2012年11月12日
特開 2012-204703	ウェーハ外観検査装置、ウェーハ外観検査方法、及び半導体装置	2012年10月22日
特開 2012-204795	半導体装置及びその製造方法	2012年10月22日
特開 2012-204612	絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ	2012年10月22日
特開 2012-205427	双方向コンバータ及び双方向コンバータの制御方法	2012年10月22日
特開 2012-199537	ショットキーバリアダイオード	2012年10月18日
特開 2012-198127	半導体デバイスの検査回路、半導体デバイスの検査方法、及び、その検査方法により検査された半導体デバイス	2012年10月18日

145 件中 16-30 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2012-235171 2012-235011 2012-229654 2012-228046 2012-226930 2012-222077 2012-220282 2012-222111 2012-222954 2012-204703 2012-204795 2012-204612 2012-205427 2012-199537 2012-198127

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。新電元工業株式会社の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数