富士電機株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第50位 749件
（
2011年：第125位 360件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第60位 618件
（2011年：第114位 318件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士電機株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5010774 | 半導体装置の製造方法及び半導体装置 | 2012年 8月29日 | 共同出願 |
| 特許 5011654 | ろ過膜の洗浄方法 | 2012年 8月29日 | |
| 特許 5011661 | 半導体素子の試験方法 | 2012年 8月29日 | |
| 特許 5012548 | プログラマブルコントローラ | 2012年 8月29日 | |
| 特許 5012632 | 半導体装置の製造方法 | 2012年 8月29日 | |
| 特許 5011740 | 半導体装置の製造方法 | 2012年 8月29日 | |
| 特許 5011656 | 半導体装置の製造方法 | 2012年 8月29日 | |
| 特許 5011640 | 積層形燃料電池 | 2012年 8月29日 | |
| 特許 5011634 | 半導体装置およびその半導体装置を用いた双方向スイッチ素子 | 2012年 8月29日 | |
| 特許 5011612 | 半導体装置 | 2012年 8月29日 | |
| 特許 5011611 | 半導体装置 | 2012年 8月29日 | |
| 特許 5012233 | 電力変換装置および積層配線導体の接続方法 | 2012年 8月29日 | |
| 特許 5011717 | 交流−交流変換装置 | 2012年 8月29日 | |
| 特許 5007649 | 部分放電測定装置、部分放電測定装置の校正方法および部分放電測定方法 | 2012年 8月22日 | |
| 特許 5007609 | 製造指図作成プログラム及び製造指図作成装置 | 2012年 8月22日 |
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5010774 5011654 5011661 5012548 5012632 5011740 5011656 5011640 5011634 5011612 5011611 5012233 5011717 5007649 5007609
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