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株式会社日立国際電気
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第53位 687件
（
2010年：第54位 747件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第95位 357件
（
2010年：第61位 424件）
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株式会社日立国際電気の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4797066 | 基板処理システム、検証装置および検証装置の動作検証方法 | 2011年10月19日 | |
| 特許 4797108 | 半導体製造装置における表示方法及び半導体製造装置 | 2011年10月19日 | |
| 特許 4795057 | 受信装置 | 2011年10月19日 | |
| 特許 4794360 | 基板処理装置 | 2011年10月19日 | |
| 特許 4795171 | 無線基地局装置 | 2011年10月19日 | |
| 特許 4795007 | 無線撮像システム及びチャネル制御方法 | 2011年10月19日 | |
| 特許 4798727 | ネットワーク伝送システムおよびネットワークカメラ | 2011年10月19日 | |
| 特許 4797101 | 半導体製造装置における表示方法及び半導体製造装置 | 2011年10月19日 | |
| 特許 4791117 | 調光装置 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4793807 | 増幅器 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4794031 | 半導体製造装置及び半導体製造装置の表示方法及び半導体装置の製造方法 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4792273 | 増幅器 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4791303 | 基板処理装置およびこの装置に用いられる冷却手段、ＩＣの製造方法 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4790806 | 基板処理方法及び基板処理装置 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4791155 | 合焦点方法及び合焦点装置並びにそれを使った測定装置 | 2011年10月12日 |
357 件中 61-75 件を表示
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4797066 4797108 4795057 4794360 4795171 4795007 4798727 4797101 4791117 4793807 4794031 4792273 4791303 4790806 4791155
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