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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第104位 438件
(2011年:第68位 573件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第77位 494件
(2011年:第102位 331件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-129779 | 耐圧防爆容器 | 2012年 7月 5日 | |
特開 2012-122944 | 半導体試験装置 | 2012年 6月28日 | |
特開 2012-122943 | 半導体試験装置 | 2012年 6月28日 | |
特開 2012-122740 | キャビテーション検出装置 | 2012年 6月28日 | |
特開 2012-122873 | 半導体試験装置、半導体試験プログラムおよび半導体試験方法 | 2012年 6月28日 | |
特開 2012-122842 | 無線フィールド機器 | 2012年 6月28日 | |
特開 2012-123446 | フィールド機器 | 2012年 6月28日 | |
特開 2012-123865 | 半導体メモリ検査装置 | 2012年 6月28日 | |
特開 2012-124783 | パルス信号受信装置及び伝送システム | 2012年 6月28日 | |
特開 2012-124558 | 光受信装置 | 2012年 6月28日 | |
特開 2012-122945 | 波形解析装置 | 2012年 6月28日 | 共同出願 |
特開 2012-117932 | 半導体試験装置、半導体試験装置の診断プログラムおよび半導体試験装置の診断方法 | 2012年 6月21日 | |
特開 2012-117937 | タイミング信号生成装置及び半導体試験装置 | 2012年 6月21日 | |
特開 2012-119987 | 通信システム、通信方法、及び管理装置 | 2012年 6月21日 | |
特開 2012-118002 | デバイステスタ | 2012年 6月21日 |
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2012-129779 2012-122944 2012-122943 2012-122740 2012-122873 2012-122842 2012-123446 2012-123865 2012-124783 2012-124558 2012-122945 2012-117932 2012-117937 2012-119987 2012-118002
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2月27日(木) - 東京 港区
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2月25日(火) -
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3月4日(火) -
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3月7日(金) - 東京 港区
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