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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第68位 573件 (2010年:第65位 641件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第102位 331件 (2010年:第161位 202件)
(ランキング更新日:2025年2月7日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-242350 | 半導体試験装置 | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-242234 | 化学処理用カートリッジ | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-243681 | 光学ウエハプローバ | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-242351 | 分析装置 | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-243682 | 放熱機構 | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-242141 | 温度分布測定器 | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-243015 | マイクロプロセッサ | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-240298 | pH制御システム | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-242235 | 半導体試験装置および半導体試験装置のタイミング調整方法 | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-244365 | 光トランスポートアナライザ | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-237236 | 波形発生装置および半導体試験装置 | 2011年11月24日 | |
特開 2011-239362 | 絶縁型信号伝送装置 | 2011年11月24日 | |
特開 2011-239064 | データ圧縮装置およびデータ復元装置 | 2011年11月24日 | |
特開 2011-239065 | 中継装置 | 2011年11月24日 | |
特開 2011-237210 | 位置測定システム | 2011年11月24日 |
573 件中 46-60 件を表示
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2011-242350 2011-242234 2011-243681 2011-242351 2011-243682 2011-242141 2011-243015 2011-240298 2011-242235 2011-244365 2011-237236 2011-239362 2011-239064 2011-239065 2011-237210
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2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
2月7日(金) -
2月7日(金) -
2月10日(月) -
2月12日(水) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月10日(月) -
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