横河電機株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第104位 438件
（
2011年：第68位 573件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第77位 494件
（
2011年：第102位 331件）
（ランキング更新日：2025年6月5日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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横河電機株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4974062 | 創薬スクリーニング方法 | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4974042 | スペクトル補正方法 | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4973963 | 半導体試験装置 | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4973958 | 光損失測定方法および光損失測定システム | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4973690 | 検査装置 | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4973527 | パターン発生装置及び半導体試験装置 | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4973091 | 半導体試験装置 | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4974060 | 創薬スクリーニング方法 | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4974059 | 自動焦点制御システム | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4974052 | 時刻同期方法及びこれを用いた無線ネットワークシステム | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4968571 | 導圧管の詰まり診断機構付き差圧測定装置 | 2012年 7月 4日 | |
| 特許 4968358 | 多点切換え型測定装置 | 2012年 7月 4日 | |
| 特許 4967991 | 測定装置用のメッセージ表示装置 | 2012年 7月 4日 | |
| 特許 4967942 | 半導体試験装置 | 2012年 7月 4日 | |
| 特許 4967861 | 出力データ制御装置および出力データ制御方法 | 2012年 7月 4日 |
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4974062 4974042 4973963 4973958 4973690 4973527 4973091 4974060 4974059 4974052 4968571 4968358 4967991 4967942 4967861
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