横河電機株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第104位 438件
（
2011年：第68位 573件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第77位 494件
（
2011年：第102位 331件）
（ランキング更新日：2025年6月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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横河電機株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5034702 | メモリ試験装置 | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5034534 | 通信システム | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5034250 | 周期制御装置および周期制御方法 | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5029883 | 半導体試験装置 | 2012年 9月19日 | |
| 特許 5029896 | 電空変換モジュール、電空変換器およびバルブポジショナ | 2012年 9月19日 | |
| 特許 5028953 | ＩＣテスタ | 2012年 9月19日 | |
| 特許 5029172 | 半導体試験装置 | 2012年 9月19日 | |
| 特許 5029402 | イオンクロマトグラフを用いた連続分析方法 | 2012年 9月19日 | |
| 特許 5029632 | プラント情報管理装置およびプラント情報管理方法 | 2012年 9月19日 | |
| 特許 5029928 | 無線通信装置、無線通信システム | 2012年 9月19日 | |
| 特許 5029929 | フィールド通信システム | 2012年 9月19日 | |
| 特許 5024172 | 波長可変光源 | 2012年 9月12日 | |
| 特許 5023507 | 波長校正方法及び波長校正装置 | 2012年 9月12日 | |
| 特許 5023582 | 半導体集積回路試験装置及び方法 | 2012年 9月12日 | |
| 特許 5024597 | 二重化電源装置を備えた通信システム | 2012年 9月12日 |
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5034702 5034534 5034250 5029883 5029896 5028953 5029172 5029402 5029632 5029928 5029929 5024172 5023507 5023582 5024597
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