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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第262位 161件
(2013年:第225位 210件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第205位 206件
(2013年:第151位 273件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2014-149266 | 分光測定装置及び分光測定方法 | 2014年 8月21日 | |
特開 2014-150412 | 画像取得装置及び撮像装置 | 2014年 8月21日 | |
特開 2014-149267 | 分光測定装置、及び分光測定方法 | 2014年 8月21日 | |
特開 2014-147946 | レーザ加工装置及びレーザ加工方法 | 2014年 8月21日 | |
特開 2014-142316 | 光検出装置および光検出方法 | 2014年 8月 7日 | |
特開 2014-143443 | フォトダイオードアレイ | 2014年 8月 7日 | |
特開 2014-138956 | レーザ加工方法及び半導体装置の製造方法 | 2014年 7月31日 | |
再表 2012-147744 | 紫外光発生用ターゲット、電子線励起紫外光源、及び紫外光発生用ターゲットの製造方法 | 2014年 7月28日 | |
特開 2014-137338 | 断面画像計測装置及び計測方法 | 2014年 7月28日 | |
再表 2012-147804 | 撮像装置 | 2014年 7月28日 | |
特開 2014-133928 | 電子部品 | 2014年 7月24日 | |
特開 2014-135420 | レーザ装置 | 2014年 7月24日 | |
特開 2014-135421 | 固体レーザデバイス及びその製造方法 | 2014年 7月24日 | |
再表 2012-132645 | テラヘルツ波分光計測装置及びプリズム部材 | 2014年 7月24日 | |
再表 2012-132647 | テラヘルツ波分光計測装置 | 2014年 7月24日 |
161 件中 46-60 件を表示
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2014-149266 2014-150412 2014-149267 2014-147946 2014-142316 2014-143443 2014-138956 2012-147744 2014-137338 2012-147804 2014-133928 2014-135420 2014-135421 2012-132645 2012-132647
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2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
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2月20日(木) -
2月20日(木) -
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
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(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
2月25日(火) -
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