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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第225位 210件 (2012年:第237位 185件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第151位 273件 (2012年:第163位 233件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5171447 | 生体測定プローブ保持装置及びそれを用いた生体測定装置 | 2013年 3月27日 | |
特許 5171569 | ファイバオプティックプレート及びその製造方法 | 2013年 3月27日 | |
特許 5171158 | 固体撮像装置及び距離画像測定装置 | 2013年 3月27日 | |
特許 5171157 | 測距装置 | 2013年 3月27日 | |
特許 5171543 | ファイバ光学装置及びその駆動方法 | 2013年 3月27日 | |
特許 5167101 | シンチレータ、放射線検出器、およびシンチレータの製造方法 | 2013年 3月21日 | |
特許 5165264 | 窒化物半導体基板 | 2013年 3月21日 | |
特許 5167274 | 位相変調装置及び位相変調方法 | 2013年 3月21日 | |
特許 5165226 | 半導体レーザ装置 | 2013年 3月21日 | |
特許 5161528 | パクリタキセル微粒子、パクリタキセル微粒子分散液、および、これらの製造方法 | 2013年 3月13日 | |
特許 5160878 | 試料同定装置および試料同定方法 | 2013年 3月13日 | |
特許 5162049 | 分光モジュール及び分光モジュールの製造方法 | 2013年 3月13日 | |
特許 5161755 | 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム | 2013年 3月13日 | |
特許 5156291 | フローセル中を流れるサンプルの光学的特性計測装置 | 2013年 3月 6日 | |
特許 5155602 | 半導体不良解析装置、不良解析方法、及び不良解析プログラム | 2013年 3月 6日 |
273 件中 211-225 件を表示
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5171447 5171569 5171158 5171157 5171543 5167101 5165264 5167274 5165226 5161528 5160878 5162049 5161755 5156291 5155602
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11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
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11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
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12月4日(水) - 東京 千代田区
12月4日(水) - 東京 港区
12月4日(水) -
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12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
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