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浜松ホトニクス株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第225位 210件
（
2012年：第237位 185件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第151位 273件
（2012年：第163位 233件）
（ランキング更新日：2024年11月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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浜松ホトニクス株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5155602 | 半導体不良解析装置、不良解析方法、及び不良解析プログラム | 2013年 3月 6日 | |
| 特許 5155759 | 固体撮像装置 | 2013年 3月 6日 | |
| 特許 5154074 | 放射線検出器 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5155041 | 平面型水銀ランプ及び発光装置 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5154862 | 測距装置 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5154717 | 電子増倍部及びそれを含む光電子増倍管 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5154039 | 半導体装置および半導体装置製造方法 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5150283 | 固体撮像装置 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5149585 | 微粒子分散液製造方法 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5148575 | レーザ加工方法、及び、レーザ加工装置 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5150219 | 放射線位置検出器 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5149635 | 光電子分光分析方法 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5148387 | 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5149707 | Ｘ線発生装置 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5148563 | 表面処理装置 | 2013年 2月20日 |
273 件中 226-240 件を表示
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5155602 5155759 5154074 5155041 5154862 5154717 5154039 5150283 5149585 5148575 5150219 5149635 5148387 5149707 5148563
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