ホーム > 特許ランキング > 浜松ホトニクス株式会社 > 2013年 > 特許一覧
※ ログインすれば出願人(浜松ホトニクス株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2013年 出願公開件数ランキング 第225位 210件 (2012年:第237位 185件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第151位 273件 (2012年:第163位 233件)
(ランキング更新日:2024年11月29日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5144471 | 光相関器 | 2013年 2月13日 | |
特許 5144212 | 光学マスクおよび光源装置 | 2013年 2月13日 | |
特許 5139832 | 観察装置 | 2013年 2月 6日 | |
特許 5138589 | 神経因性疼痛を抑制するピロリジン類縁体及びその製造方法 | 2013年 2月 6日 | |
特許 5138800 | レーザ加工方法 | 2013年 2月 6日 | |
特許 5138219 | レーザ加工方法 | 2013年 2月 6日 | |
特許 5140201 | ガラス層定着方法 | 2013年 2月 6日 | |
特許 5139885 | 蛍光解析装置及び解析方法 | 2013年 2月 6日 | |
特許 5139881 | シンチレータの製造方法および放射線位置検出器 | 2013年 2月 6日 | |
特許 5139923 | 半導体受光素子 | 2013年 2月 6日 | |
特許 5139891 | 撮像システムおよび周辺モニタ装置 | 2013年 2月 6日 | |
特許 5129653 | 紫外線照射装置および紫外線照射ユニット | 2013年 1月30日 | |
特許 5135087 | 発光装置 | 2013年 1月30日 | |
特許 5134427 | 固体撮像装置 | 2013年 1月30日 | |
特許 5135114 | 光電陰極およびその製造方法並びに光電子増倍管 | 2013年 1月30日 |
273 件中 241-255 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5144471 5144212 5139832 5138589 5138800 5138219 5140201 5139885 5139881 5139923 5139891 5129653 5135087 5134427 5135114
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。浜松ホトニクス株式会社の知財の動向チェックに便利です。
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月29日(金) - 東京 港区
12月2日(月) - 滋賀 草津市
新製品開発の「タネ」がみつかる!株式会社リコーによるシーズ発表会 ~リコーの技術(シーズ)やアイデアを使って新製品をつくりませんか?~
12月2日(月) -
12月4日(水) - 東京 千代田区
12月4日(水) - 東京 港区
12月4日(水) -
12月4日(水) - 大阪 大阪市
12月4日(水) -
12月4日(水) -
12月5日(木) - 東京 港区
12月5日(木) -
12月5日(木) -
12月5日(木) - 大阪 大阪市
【特別講演】第8回 前コミュ 生成AIでビジネスチャンスをつかむ前に、生成AI導入に待ち構える法的ハードルを越える方法 ~ つながりを育む出会いの場(知財ネットワーク交流会)~
12月6日(金) -
12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
12月6日(金) -
12月2日(月) - 滋賀 草津市
新製品開発の「タネ」がみつかる!株式会社リコーによるシーズ発表会 ~リコーの技術(シーズ)やアイデアを使って新製品をつくりませんか?~
〒166-0003 東京都杉並区高円寺南2-50-2 YSビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒101-0032 東京都千代田区岩本町3-2-10 SN岩本町ビル9階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒170-0013 東京都豊島区東池袋3丁目9-10 池袋FNビル4階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング