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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第225位 210件
(2012年:第237位 185件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第151位 273件
(2012年:第163位 233件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5337281 | X線検査システム | 2013年11月 6日 | |
特許 5330001 | 固体撮像装置 | 2013年10月30日 | |
特許 5330892 | レーザ加工装置 | 2013年10月30日 | |
特許 5330115 | 積層配線基板 | 2013年10月30日 | |
特許 5330083 | 光電子増倍管 | 2013年10月30日 | |
特許 5322418 | レーザ加工方法及びレーザ加工装置 | 2013年10月23日 | |
特許 5324947 | 信号処理装置および光検出装置 | 2013年10月23日 | |
特許 5322765 | レーザ加工装置及びレーザ加工方法 | 2013年10月23日 | |
特許 5322527 | アポトーシスの検出に適した化合物 | 2013年10月23日 | |
特許 5325829 | 分光モジュール | 2013年10月23日 | |
特許 5325137 | ガス濃度算出装置およびガス濃度計測モジュール | 2013年10月23日 | |
特許 5314204 | 光測定装置 | 2013年10月16日 | |
特許 5314205 | 光測定装置 | 2013年10月16日 | |
特許 5314662 | X線光電子分光装置およびX線光電子分光方法 | 2013年10月16日 | |
特許 5308185 | 表面処理装置 | 2013年10月 9日 |
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5337281 5330001 5330892 5330115 5330083 5322418 5324947 5322765 5322527 5325829 5325137 5314204 5314205 5314662 5308185
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