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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第237位 185件 (2011年:第242位 175件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第163位 233件 (2011年:第157位 228件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特許 5031172 | シンチレータパネル、放射線イメージセンサおよびそれらの製造方法 | 2012年 9月19日 | |
特許 5026090 | 免疫クロマト試験片の測定装置 | 2012年 9月12日 | |
特許 5025876 | レーザ加工装置 | 2012年 9月12日 | |
特許 5022274 | 観察装置 | 2012年 9月12日 | |
特許 5020724 | 樹脂溶着方法及び樹脂溶着装置 | 2012年 9月 5日 | |
特許 5020118 | 蛍光解析装置及び解析方法 | 2012年 9月 5日 | |
特許 5015294 | 半導体基板及びその切断方法 | 2012年 8月29日 | |
特許 5014680 | レーザ媒質およびレーザ装置 | 2012年 8月29日 | |
特許 5008954 | 光ビーム発生装置 | 2012年 8月22日 | |
特許 5005893 | 半導体不良解析装置、不良解析方法、及び不良解析プログラム | 2012年 8月22日 | 共同出願 |
特許 5005247 | 光測定装置、光測定方法、及び光測定プログラム | 2012年 8月22日 | |
特許 5005227 | 光検出素子、及び光検出素子の製造方法 | 2012年 8月22日 | |
特許 5000216 | 光電陰極および電子管 | 2012年 8月15日 | |
特許 5001970 | 固体撮像装置 | 2012年 8月15日 | |
特許 5000258 | 固体撮像装置 | 2012年 8月15日 |
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5031172 5026090 5025876 5022274 5020724 5020118 5015294 5014680 5008954 5005893 5005247 5005227 5000216 5001970 5000258
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2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
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