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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第262位 161件
(2013年:第225位 210件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第205位 206件
(2013年:第151位 273件)
(ランキング更新日:2025年2月18日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5512961 | 分光モジュール及びその製造方法 | 2014年 6月 4日 | |
特許 5508533 | 光吸収基板の製造方法、及びそれを製造するための成形型の製造方法 | 2014年 6月 4日 | |
特許 5502694 | 距離センサ及び距離画像センサ | 2014年 5月28日 | |
特許 5502623 | 分光装置 | 2014年 5月28日 | |
特許 5502564 | 電磁波検出装置 | 2014年 5月28日 | |
特許 5508195 | 光学素子及びその製造方法 | 2014年 5月28日 | |
特許 5501802 | 分布帰還型半導体レーザの製造方法 | 2014年 5月28日 | |
特許 5498310 | ガラス溶着方法 | 2014年 5月21日 | |
特許 5497386 | 画像取得装置 | 2014年 5月21日 | |
特許 5497331 | 光電子増倍管 | 2014年 5月21日 | |
特許 5491761 | レーザ加工装置 | 2014年 5月14日 | |
特許 5492049 | ガラス溶着方法 | 2014年 5月14日 | |
特許 5491714 | フランジ付ランプ、光源ユニットおよび光源装置 | 2014年 5月14日 | |
特許 5491369 | 量子収率測定装置 | 2014年 5月14日 | |
特許 5491368 | 量子収率測定装置及び量子収率測定方法 | 2014年 5月14日 |
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5512961 5508533 5502694 5502623 5502564 5508195 5501802 5498310 5497386 5497331 5491761 5492049 5491714 5491369 5491368
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2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
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2月25日(火) -
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2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
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2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
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2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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