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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第251位 186件 (2012年:第261位 163件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第252位 155件 (2012年:第348位 106件)
(ランキング更新日:2025年2月3日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2013-36849 | 等価回路解析装置及び等価回路解析方法 | 2013年 2月21日 | |
特開 2013-36790 | 抵抗体の等価回路パラメータ測定装置および抵抗体の等価回路パラメータ測定方法 | 2013年 2月21日 | |
特開 2013-32997 | 測定装置 | 2013年 2月14日 | |
特開 2013-32974 | コンセント測定プローブ及び電圧測定器 | 2013年 2月14日 | |
特開 2013-32971 | 基板検査装置 | 2013年 2月14日 | |
特開 2013-32960 | コンデンサの絶縁抵抗測定装置およびコンデンサの絶縁抵抗測定方法 | 2013年 2月14日 | |
特開 2013-29759 | データ測定装置 | 2013年 2月 7日 | |
特開 2013-29466 | 積分型の電流電圧変換回路を有する電気測定装置 | 2013年 2月 7日 | |
特開 2013-29394 | 測定装置および管理装置 | 2013年 2月 7日 | |
特開 2013-30519 | 球状体吸着ヘッド、球状体搭載装置および球状体吸着ヘッド製造方法 | 2013年 2月 7日 | |
特開 2013-24835 | 測定装置および表示方法 | 2013年 2月 4日 | |
特開 2013-24793 | 等価回路解析装置及び等価回路解析方法 | 2013年 2月 4日 | |
特開 2013-24724 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | 2013年 2月 4日 | |
特開 2013-24697 | 等価回路解析装置及び等価回路解析方法 | 2013年 2月 4日 | |
特開 2013-24588 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | 2013年 2月 4日 |
186 件中 151-165 件を表示
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2013-36849 2013-36790 2013-32997 2013-32974 2013-32971 2013-32960 2013-29759 2013-29466 2013-29394 2013-30519 2013-24835 2013-24793 2013-24724 2013-24697 2013-24588
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2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
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