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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第261位 163件
(2011年:第272位 151件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第348位 106件
(2011年:第323位 106件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-237655 | 微量成分検出装置および微量成分検出方法 | 2012年12月 6日 | |
特開 2012-233832 | 判定エリア作成装置、波形判定装置および判定エリア作成方法 | 2012年11月29日 | |
特開 2012-233844 | 抵抗計 | 2012年11月29日 | |
特開 2012-233820 | 測定装置 | 2012年11月29日 | |
特開 2012-233843 | インピーダンス測定装置 | 2012年11月29日 | |
特開 2012-228712 | 球状体吸着ヘッドおよび球状体搭載装置 | 2012年11月22日 | |
特開 2012-231015 | 球状体吸着ヘッド製造方法、球状体吸着ヘッドおよび球状体搭載装置 | 2012年11月22日 | |
特開 2012-231016 | 球状体吸着ヘッドおよび球状体搭載装置 | 2012年11月22日 | |
特開 2012-225710 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | 2012年11月15日 | |
特開 2012-225791 | 抵抗測定装置 | 2012年11月15日 | |
特開 2012-227259 | 球状体吸着装置、球状体搭載装置および球状体吸着方法 | 2012年11月15日 | |
特開 2012-226929 | スイッチ装置 | 2012年11月15日 | |
特開 2012-220268 | 測定器用テストプローブ | 2012年11月12日 | |
特開 2012-220399 | 4端子式測定装置 | 2012年11月12日 | |
特開 2012-220275 | 短絡検査装置および短絡検査方法 | 2012年11月12日 |
163 件中 16-30 件を表示
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2012-237655 2012-233832 2012-233844 2012-233820 2012-233843 2012-228712 2012-231015 2012-231016 2012-225710 2012-225791 2012-227259 2012-226929 2012-220268 2012-220399 2012-220275
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