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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第272位 151件 (2010年:第294位 156件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第323位 106件 (2010年:第372位 78件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2011-191257 | インピーダンス測定システムおよびインピーダンス測定方法 | 2011年 9月29日 | |
特開 2011-191281 | 測定用プローブ | 2011年 9月29日 | |
特開 2011-188830 | 培養容器 | 2011年 9月29日 | |
特開 2011-191096 | センサ | 2011年 9月29日 | |
特開 2011-187113 | ディスク固定装置 | 2011年 9月22日 | |
特開 2011-185688 | 測定用プローブ | 2011年 9月22日 | |
特開 2011-185626 | インピーダンス測定装置 | 2011年 9月22日 | |
特開 2011-187686 | 測定装置 | 2011年 9月22日 | |
特開 2011-185625 | 検査装置 | 2011年 9月22日 | |
特開 2011-179827 | 基板外観検査装置用の基板反転機構および該基板反転機構を備えた基板反転搬送手段 | 2011年 9月15日 | |
特開 2011-181589 | 回路基板固定装置および回路基板検査装置 | 2011年 9月15日 | |
特開 2011-174769 | ロゴスキ−コイルおよび電流検出装置 | 2011年 9月 8日 | |
特開 2011-174846 | 測定用プローブシステムおよびプローブキャップ | 2011年 9月 8日 | |
特開 2011-176667 | 信号生成装置 | 2011年 9月 8日 | |
特開 2011-169772 | プローブユニットおよび回路基板検査装置 | 2011年 9月 1日 |
151 件中 31-45 件を表示
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2011-191257 2011-191281 2011-188830 2011-191096 2011-187113 2011-185688 2011-185626 2011-187686 2011-185625 2011-179827 2011-181589 2011-174769 2011-174846 2011-176667 2011-169772
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11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
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11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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