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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第261位 163件
(2011年:第272位 151件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第348位 106件
(2011年:第323位 106件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-177553 | 鏡面冷却式露点計 | 2012年 9月13日 | |
特開 2012-174880 | 位置合わせ装置、基板搬送装置および基板検査装置 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-173023 | 配線チェッカー | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-173024 | 配線チェッカー | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-173242 | 波形表示装置および波形表示方法 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-173182 | 検査装置および検査方法 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-173158 | 測定装置 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-173134 | 測定装置および測定方法 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-167934 | データ作成装置、基板検査装置およびデータ作成方法 | 2012年 9月 6日 | |
特開 2012-168025 | 測定装置および測定方法 | 2012年 9月 6日 | |
特開 2012-168067 | 測定装置 | 2012年 9月 6日 | |
特開 2012-163383 | マーク検出装置、基板検査装置およびマーク検出方法 | 2012年 8月30日 | |
特開 2012-163423 | 信号測定装置 | 2012年 8月30日 | |
特開 2012-163483 | データ作成装置、基板検査装置およびデータ作成方法 | 2012年 8月30日 | |
特開 2012-163510 | インピーダンス測定装置 | 2012年 8月30日 |
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2012-177553 2012-174880 2012-173023 2012-173024 2012-173242 2012-173182 2012-173158 2012-173134 2012-167934 2012-168025 2012-168067 2012-163383 2012-163423 2012-163483 2012-163510
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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