日置電機株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第272位 151件
（
2010年：第294位 156件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第323位 106件
（2010年：第372位 78件）
（ランキング更新日：2025年2月3日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日置電機株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2011-112408 | 絶縁検査装置および絶縁検査方法 | 2011年 6月 9日 | |
| 特開 2011-106973 | コンタクトプローブ、プローブ装置、測定装置および検査装置 | 2011年 6月 2日 | |
| 特開 2011-107114 | 測光装置 | 2011年 6月 2日 | |
| 特開 2011-106856 | 電気特性測定装置および電気特性測定方法 | 2011年 6月 2日 | |
| 特開 2011-106854 | 計測機器 | 2011年 6月 2日 | |
| 特開 2011-106972 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | 2011年 6月 2日 | |
| 特開 2011-106946 | 波形表示装置および波形表示方法 | 2011年 6月 2日 | |
| 特開 2011-106893 | 波形表示装置および波形表示方法 | 2011年 6月 2日 | |
| 特開 2011-106976 | 測定装置 | 2011年 6月 2日 | |
| 特開 2011-102723 | 回転計 | 2011年 5月26日 | |
| 特開 2011-99745 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | 2011年 5月19日 | |
| 特開 2011-100109 | 赤外線シャッター機構および赤外線測定器 | 2011年 5月19日 | |
| 特開 2011-94993 | 回転計 | 2011年 5月12日 | |
| 特開 2011-95035 | 絶縁検査装置および絶縁検査方法 | 2011年 5月12日 | |
| 特開 2011-97382 | 周波数シンセサイザ | 2011年 5月12日 |
151 件中 76-90 件を表示
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2011-112408 2011-106973 2011-107114 2011-106856 2011-106854 2011-106972 2011-106946 2011-106893 2011-106976 2011-102723 2011-99745 2011-100109 2011-94993 2011-95035 2011-97382
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2月14日(金) - 東京 千代田区
