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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第261位 163件
(2011年:第272位 151件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第348位 106件
(2011年:第323位 106件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-141159 | 基板受けピン、ピンボードユニットおよび基板検査装置 | 2012年 7月26日 | |
特開 2012-141158 | 測定装置およびスクロール表示方法 | 2012年 7月26日 | |
特開 2012-141152 | 部品検出プローブおよび部品検出装置 | 2012年 7月26日 | |
特開 2012-141151 | 電流検出用センサ | 2012年 7月26日 | |
特開 2012-141150 | 測定装置および判定方法 | 2012年 7月26日 | |
特開 2012-141148 | コンタクト装置、測定システムおよび検査システム | 2012年 7月26日 | |
特開 2012-141325 | 検査プローブ接触検知機構および回路基板検査装置 | 2012年 7月26日 | |
特開 2012-137433 | 電気測定器及び電気測定器における測定結果のデジタル表示方法 | 2012年 7月19日 | |
特開 2012-137496 | クランプ式センサ | 2012年 7月19日 | |
特開 2012-137434 | 測定器 | 2012年 7月19日 | |
特開 2012-132736 | 回路基板検査装置 | 2012年 7月12日 | |
特開 2012-132737 | 回路基板検査装置 | 2012年 7月12日 | |
特開 2012-132738 | 回路基板検査装置 | 2012年 7月12日 | |
特開 2012-122781 | 抵抗測定装置 | 2012年 6月28日 | |
特開 2012-122928 | 電圧測定装置 | 2012年 6月28日 |
163 件中 76-90 件を表示
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2012-141159 2012-141158 2012-141152 2012-141151 2012-141150 2012-141148 2012-141325 2012-137433 2012-137496 2012-137434 2012-132736 2012-132737 2012-132738 2012-122781 2012-122928
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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