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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第261位 163件
(2011年:第272位 151件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第348位 106件
(2011年:第323位 106件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-122825 | 測定装置および判定方法 | 2012年 6月28日 | |
特開 2012-122781 | 抵抗測定装置 | 2012年 6月28日 | |
特開 2012-117991 | 回路基板検査装置 | 2012年 6月21日 | |
特開 2012-117956 | 基板検査方法及び基板検査装置 | 2012年 6月21日 | |
特開 2012-117863 | 測定装置 | 2012年 6月21日 | |
特開 2012-112747 | クランプ式測定器、及びクランプセンサ | 2012年 6月14日 | |
特開 2012-108022 | 回転計 | 2012年 6月 7日 | |
特開 2012-108007 | 測定装置 | 2012年 6月 7日 | |
特開 2012-107965 | プローブユニットおよび基板検査装置 | 2012年 6月 7日 | |
特開 2012-107872 | 記録計 | 2012年 6月 7日 | |
特開 2012-103063 | 導通検査方法 | 2012年 5月31日 | |
特開 2012-98157 | 抵抗測定装置 | 2012年 5月24日 | |
特開 2012-98146 | ノイズ測定装置 | 2012年 5月24日 | |
特開 2012-98096 | 測定装置及び測定装置の脚部構造 | 2012年 5月24日 | |
特開 2012-98032 | 回転計 | 2012年 5月24日 |
163 件中 91-105 件を表示
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2012-122825 2012-122781 2012-117991 2012-117956 2012-117863 2012-112747 2012-108022 2012-108007 2012-107965 2012-107872 2012-103063 2012-98157 2012-98146 2012-98096 2012-98032
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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