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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第251位 186件 (2012年:第261位 163件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第252位 155件 (2012年:第348位 106件)
(ランキング更新日:2025年2月3日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2013-120921 | 順方向電圧測定装置 | 2013年 6月17日 | |
特開 2013-120078 | 測定器 | 2013年 6月17日 | |
特開 2013-120077 | 測定装置 | 2013年 6月17日 | |
特開 2013-117482 | 電子回路検査装置、電子回路検査方法、回路基板検査装置および回路基板検査方法 | 2013年 6月13日 | |
特開 2013-117423 | 基板検査装置および基板検査方法 | 2013年 6月13日 | |
特開 2013-117420 | 測定装置 | 2013年 6月13日 | |
特開 2013-117403 | テストリード | 2013年 6月13日 | |
特開 2013-118549 | 信号切替回路およびA/D変換装置 | 2013年 6月13日 | |
特開 2013-113822 | 測定装置 | 2013年 6月10日 | |
特開 2013-113589 | 電力比率測定装置および電力比率測定方法 | 2013年 6月10日 | |
特開 2013-114104 | 電光変換装置および光アイソレーション装置 | 2013年 6月10日 | |
特開 2013-104718 | 測定装置 | 2013年 5月30日 | |
特開 2013-104677 | 測定結果表示装置および測定結果表示方法 | 2013年 5月30日 | |
特開 2013-104676 | 測定結果表示装置および測定結果表示方法 | 2013年 5月30日 | |
特開 2013-104663 | 回路基板検査装置 | 2013年 5月30日 |
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2013-120921 2013-120078 2013-120077 2013-117482 2013-117423 2013-117420 2013-117403 2013-118549 2013-113822 2013-113589 2013-114104 2013-104718 2013-104677 2013-104676 2013-104663
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2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
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