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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第272位 151件
(2010年:第294位 156件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第323位 106件
(2010年:第372位 78件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 4634139 | 波形判定装置 | 2011年 2月16日 | |
特許 4634137 | 波形判定装置 | 2011年 2月16日 | |
特許 4634120 | 波形表示装置 | 2011年 2月16日 | |
特許 4629625 | 電圧測定装置 | 2011年 2月 9日 | |
特許 4629531 | 短絡検査装置および短絡検査方法 | 2011年 2月 9日 | |
特許 4625588 | 積算電力計 | 2011年 2月 2日 | |
特許 4621543 | フラックスゲートセンサ素子およびこれを用いた貫通型電流センサ | 2011年 1月26日 | |
特許 4620441 | 記録装置 | 2011年 1月26日 | |
特許 4620265 | サンプリング装置、サンプリング方法、交流インピーダンス測定装置および交流インピーダンス測定方法 | 2011年 1月26日 | |
特許 4616054 | 測定システム | 2011年 1月19日 | |
特許 4607300 | 冷却装置および光検出装置 | 2011年 1月 5日 | |
特許 4607776 | 可変容量回路および電圧測定装置 | 2011年 1月 5日 | |
特許 4607753 | 電圧測定装置および電力測定装置 | 2011年 1月 5日 | |
特許 4607752 | 可変容量回路、電圧測定装置および電力測定装置 | 2011年 1月 5日 | |
特許 4607744 | 電圧測定装置および電力測定装置 | 2011年 1月 5日 |
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4634139 4634137 4634120 4629625 4629531 4625588 4621543 4620441 4620265 4616054 4607300 4607776 4607753 4607752 4607744
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -