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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第232位 190件
(2013年:第251位 186件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第251位 157件
(2013年:第252位 155件)
(ランキング更新日:2025年2月20日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5456581 | 測定装置および経過時間表示方法 | 2014年 4月 2日 | |
特許 5456574 | 基板検査システム | 2014年 4月 2日 | |
特許 5450733 | 電気計測プローブ用変位拡大機構および基板検査装置 | 2014年 3月26日 | |
特許 5450268 | 波形表示装置および波形表示方法 | 2014年 3月26日 | |
特許 5449996 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | 2014年 3月19日 | |
特許 5449895 | 漏れ電流測定装置 | 2014年 3月19日 | |
特許 5449657 | クランプ式電流計 | 2014年 3月19日 | |
特許 5437183 | 測定装置および基板検査装置 | 2014年 3月12日 | |
特許 5442366 | クランプ機構、基板固定装置および基板検査装置 | 2014年 3月12日 | |
特許 5436976 | 測定装置の電源制御方法および測定装置 | 2014年 3月 5日 | |
特許 5431524 | 検査プローブ接触検知機構および回路基板検査装置 | 2014年 3月 5日 | |
特許 5431105 | 四端子抵抗測定装置 | 2014年 3月 5日 | |
特許 5431065 | 測定データ記録装置および測定データ記録システム | 2014年 3月 5日 | |
特許 5430996 | 回路基板検査装置 | 2014年 3月 5日 | |
特許 5430892 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | 2014年 3月 5日 |
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5456581 5456574 5450733 5450268 5449996 5449895 5449657 5437183 5442366 5436976 5431524 5431105 5431065 5430996 5430892
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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